二手 HITACHI S-4800 #9255305 待售
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ID: 9255305
優質的: 2004
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With control bench
Imaging:
Topographic contrast secondary electron (SE)
Atomic number contrast back-scattered electron (BSE)
Control panel included
HEWLETT-PACKARD / HP Computer
NORAM System 7
HUBER Minichiller-H1 Advanced
Vacuum pump
MS NOISE NRVP-B
2004 vintage.
HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高性能、易於使用的分析工具,它利用二次電子在多種材料中實現快速、精確的表面分析。這一SEM包含一個可變壓力電子柱，允許廣泛的環境條件，使樣品的成像和分析不需要樣品制備或專門物品。其靈活性和易用性使其成為一系列研究機構、學術機構和工業應用的理想工具。HITACHI S 4800的特點是具有高亮度鎢源的電子源能夠達到20kV加速電壓。此源固有地減少了光束磁盤電流,從而產生更清晰的圖像,並提高了分辨率和對比度。電子槍安裝在五軸機械手上，在進行成像時增加定位靈活性。S-4800 SEM包含一個先進的低真空電子柱，能夠在10−3到10−8 mbar之間運行。這種壓力範圍允許對環境表面條件進行調查，而無需進行樣品制備。物鏡在超高真空條件下的電子光學分辨率為24 pm，在溫和的環境條件下最高可達60 pm，而探測器系統則能夠從一系列探針中檢測到低能電子。在成像電子方面，S 4800具有多種功能。其中包括一個自動聚焦透鏡,可補償樣品曲面或幾何形狀的任何變化,以及自動調整設置以提高圖像質量。該單元還具有圖像處理軟件包,用於管理數據和創建圖像。在性能方面，HITACHI S-4800能夠在一系列環境條件下以最少的人工制品制作高質量的圖像。它還提供了在STEM模式下空間分辨率高達3 nm的潛力。此外，在正常掃描模式下，掃描率提高了常規掃描率的30%。在安全性和用戶友好性方面，HITACHI S 4800附有專用的粒子屏蔽裝置，在束接合時開啟，以確保使用者不受電子流動的影響。S-4800還提供一鍵式AutoEase操作,使用戶可以輕松調整發射電流、加速電壓、放大倍率、圖像亮度和按任意順序聚焦。
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