二手 HITACHI S-5000 #9241544 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-5000
ID: 9241544
優質的: 1998
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Includes: STEM Accessory NORAN EDX EDX Computer EDX Control unit Manuals Sample holders: Cross section doubt tilt holder Cross section specimen holder Specimen rotation holder Faraday cup holder Quick change holder TEM Holder 1998 vintage.
HITACHI S-5000是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於檢查各種樣品類型,從平坦和高度不規則的表面到具有束敏感納米復合材料的表面。這種高效的設備能夠捕獲最大橫向分辨率(檢測性限制)為0.8-1.0 μ m的高分辨率圖像,從而能夠進行廣泛的樣本分析。此外,它還以工業領先的Z平面分辨率0.88nm的高精度3D曲面測量而聞名,非常適合細微幾何和形態特征的詳細分析。HITACHI S 5000的大視野也使得標本更容易觀察。該裝置需要同時配準3個大面積圖像信號,從二次電子檢測器透鏡、反向散射電子檢測器透鏡和三重態電子透鏡設備采集。有了這個系統,S-5000可以在廣泛的成像模式下捕獲圖像,包括掃描透射電子顯微鏡、二次電子成像、反向散射電子成像、低壓成像和高分辨率成像。除了SEM成像功能外,S 5000還擁有多個高級組件,包括智能自動固定器(AHSS)和自動測量控制機(AMCS)。AHSS減少了樣品制備時間,實現了快速、精確的樣品對準,而AMCS則幫助用戶進行樣品對準,使樣品觀察和分析更加高效。此外,該裝置還具有直觀的特點,操作方便,圖像質量優良。利用這些功能,用戶可以使用自動曝光控制和粗略/精細調整、圖像聚焦調整,以及可以調整的可接受數量的參數。HITACHI S-5000是從半導體行業缺陷和樣品分析到生物樣品分析和研究等一系列應用的絕佳設備。HITACHI S 5000憑借其出色的分辨率、靈活的功能、用戶友好的控制和出色的映像功能,是尋求發現其樣本中隱藏的最佳細節的專業人員的理想工具。
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