二手 HITACHI S-5000H #9163121 待售

製造商
HITACHI
模型
S-5000H
ID: 9163121
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 0.6 nm at 30 kV 3.5 nm at 1 kV Magnification: 30- 500x Low magnification speed: 30-500x High magnification speed: 250-800000x Electron gun: Cold field emission source Lens system: (3) Stage electromagnetic lenses Objective: (4) Openings Specimen exchange: Airlock type Stage electromagnetic types: Stigmator (X,Y) (2) Scanning coils Specimen stage: Side entry type Motion: X: ±3.5 mm Y: ±2 mm Tilt: ±40ºC Specimen size: Standard holder size: 9.5 mm x 5 mm x 2.4 mm Large specimen holder size: 20 mm x 6 mm x 2.4 mm Power supply: 0.5-30 kV in 100 V.
HITACHI S-5000H是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),結合了提高成像速度和高分辨率成像能力。此SEM提供多種成像模式,包括高分辨率成像、高光柵掃描成像和高速成像,以滿足各種應用程序的需求。它還為電子柱收集的二次電子信號提供了獨特的成像能力。由於其先進的分析能力,它非常適合廣泛的研究應用,包括材料、設備和生命科學研究的特性。這款高端儀器提供了多種高級功能和功能,可實現卓越的成像和分析。其中的特點包括廣泛的樣板級移動(最高50毫米/秒,最大行程範圍為170毫米)、開放式平臺多視圖光學系統、五軸高分辨率樣板級以及自動樣品交換(ASEX)控制器。它還利用場發射電子源,為成像提供盡可能高的亮度和分辨率。HITACHI S 5000H采用了稱為動態空間扭曲校正(Dynamic Space Warp Correction,DSWC)的專有圖像校正技術,該技術糾正了構成電子柱的各種透鏡元件引起的像差。這使得高質量的圖像幾乎沒有失真。此外,ASEX控制器被設計為通過允許系統在多個標本之間一觸即可切換,從而將準確性和速度提升到新的水平。它還允許高速自動化標本處理與可重復標本對準。S-5000 H還裝有用於能量色散X射線光譜(EDS)的集成能量濾波器。這一特征使納米級元素的定量分析能夠研究材料組成,提供有關晶體結構和化學性質的寶貴數據。除了上面提到的高級功能外,S 5000H還配備了廣泛的影像軟體,可以讓使用者輕鬆操作系統。操作員能夠控制各種功能,以優化各種樣品的成像和分析。它還提供了一系列分析選項,如自動掃描成像或分析測量、自動表面成像和自動厚度測量。總體而言,S-5000H提供了精密掃描電子顯微鏡所需的卓越性能、多功能性和可用性。由於改進了成像和自動化功能,HITACHI S-5000 H非常適合從材料和設備研究到生命科學研究的一系列應用。
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