二手 HITACHI S-5200 #293778227 待售
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ID: 293778227
Scanning Electron Microscope (SEM)
Electron source: Cold-FEG
Acceleration voltage: 500 V to 30 kV
Guaranteed resolution: 0.5 nm to 30 kV
Magnification range:
LM 60x to 10000x
HM 800x to 2000000x
(2) Detectors:
SE
T-BSE
Stage:
X: ±3.5 mm
Y: ±2 mm
Z: ±0.3 mm
Tilt: ±40°
Specimen:
Flat: 5 x 9.5 x 3.5 x 4 x 9 x 4 mm
Phase: 2 x 8 x 5 mm.
HITACHI S-5200是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於提供對固體物體表面的高分辨率成像和分析。它是一種電子顯微鏡,使用聚焦的電子束,以產生它正在成像和分析的物體的圖像。HITACHI S 5200是一款高性能掃描電子顯微鏡,配備了創新設計,使操作和維護更加方便。SEM的工作原理是使用電子源將電子聚焦到樣品表面。電子束以類似光柵的模式在整個表面掃描,與樣品相互作用的電子被檢測出來,並以圖像的形式記錄下來。S-5200具有高達5納米的高分辨率,非常適合檢查小顆粒表面和分析樣品表面的精細細節。顯微鏡可以在二次電子成像模式或反向散射電子成像模式下操作。在二次電子成像模式下,電子在與樣品相互作用後以淺角度分散,通過檢測二次電子撞擊檢測器而產生圖像。反向散射電子成像模式通過檢測從樣品散射到探測器的電子,形成樣品的輪廓圖像。S 5200還為用戶提供各種先進的鏡頭和探測器。SEM中有兩種不同的探測器;Everhart-Thornley探測器和鏡頭內探測器。Everhart-Thornley探測器能夠檢測樣品中的二次電子和反向散射電子。透鏡內檢測器能夠檢測樣品中的非彈性散射電子。HITACHI S-5200具有一個真空室,用於創建必要的微真空環境,使電子束不受任何幹擾地展開。腔室設計為以1x10-6 Pa的最低壓力運行,確保樣品不受任何外部汙染。該室配備了幾個端口,用於疏散任何殘留氣體,並允許為SEM安裝各種配件。HITACHI S 5200是進行詳細和高分辨率SEM成像和分析的絕佳儀器。其創新的設計和用戶友好的操作系統使其非常適合各種高級研究應用。
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