二手 HITACHI S-5200 #9265145 待售

HITACHI S-5200
製造商
HITACHI
模型
S-5200
ID: 9265145
Scanning Electron Microscope (SEM).
HITACHI S-5200是一種掃描電子顯微鏡(SEM),提供精確成像能力的樣品到納米尺寸範圍。它采用了一種新型的無透鏡SEM設備,避免了鏡頭的使用,從而能夠以更高的精度和準確度捕捉樣品特征。HITACHI S 5200利用最適合高速成像的微通道板(MCP)探測器。與傳統的SEM系統相比,這極大地提高了圖像采集速度,從而提高了操作速度和生產率。S-5200允許用戶以手動或自動模式捕獲圖像。手動模式功能允許用戶設置顯微鏡的工作距離。這一方便的功能使用戶能夠調整樣品與探測器之間的距離,為樣品研究提供了奇妙的靈活性。此外,S 5200還具有自動調整圖像聚焦級別的自動圖像聚焦系統,從而實現了長期高效的圖像采集過程。HITACHI S-5200配備了多種放大倍率級別(最多x 803,000個)和分辨率級別(最多2 nm)。它的高分辨率具有2048 x 2048像素的檢測器,允許用戶高效清晰地捕捉納米結構的精細細節。它的噪聲排除功能允許無噪聲的圖像捕獲過程。HITACHI S 5200還有一個創新的定向離子束(DIB)單元,能夠以高空間分辨率對標本進行精確的顯微外科手術。配備了高度靈敏的X射線探測器,S-5200允許用戶進行高分辨率的能量色散光譜(EDS)元素分析。這一創新功能使S 5200能夠以極高的精度和靈敏度識別儲存樣品的組成,從而使用戶能夠探索到原子水平的納米結構的組成。HITACHI S-5200還配備了一個可選的低揮發性能級機器,它允許用戶在低汙染水平的情況下調整樣品位置。這也允許對形狀不同的粒子進行精確的成像能力。總之,HITACHI S 5200具有多種功能,使用戶能夠以前所未有的精確度和細節探索和研究納米結構。它還具有廣泛選擇的放大和分辨率水平,低汙染階段,以及一個令人印象深刻的用於元素分析的X射線EDS檢測器,允許用戶以越來越高的精度探索樣品的成分。
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