二手 HITACHI S-570 #293592480 待售
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ID: 293592480
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution: 2.5 nm
Magnification: 20 to 100,000x, 12-100,000x
Filament: Pre-centered LaB6
Maximum beam current: 300 µA
Auto bias
Alignment: 2-Stage electromagnetic alignment
Lens: 3-Stage electromagnetic lenses
Stigmator coil: Electromagnetic type
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Objective: Movable aperture
Maximum specimen size: 150 mm
Specimen stub size: 6 mm
Ultra high resolution: 50 mm
Specimen exchange: Air leak
Motion range (Large stages):
X: 0-40 mm, 0-100 mm
Y: 0-40 mm, 0-50 mm
Z: 5-35 mm, 20-60 mm
Tilt: -20°-+90°, 0°-60°
Rotation: 360°
Power supply: 0.5-3 kV, 100 V / 3-30 kV, 1 kV.
HITACHI S-570掃描電子顯微鏡(SEM)提供卓越的性能和先進的功能,以支持廣泛的材料科學研究應用。HITACHI S 570提供了同類產品中最高的分辨率,在30毫米工作距離時提供1.2 nm的分辨率,在6毫米工作距離時提供低至0.8 nm的分辨率。這種能力使得能夠對單個原子和分子進行成像,並允許研究和表征新材料和納米結構。S-570掃描電子顯微鏡還提供了各種各樣的探測器配置。這些包括二次電子探測器、反向散射電子探測器,以及包括EDX、EBSD和SDD探測器在內的多種取樣系統。因此,S 570非常適合多學科應用,從納米材料的成像和分析到生命科學研究。HITACHI S-570得益於先進的電子光學柱設計。這包括先進的汙染控制,這是實現高水平成像分辨率的關鍵。此外,柱的機械設計確保SEM在運行過程中保持完全穩定的位置,而不會出現漂移或振動,這對於要求高精度的SEM應用至關重要。HITACHI S 570被設計成一種靈活且方便用戶的儀器。其特點包括圖像分析能力、4種電子槍配置和可編程放大控制,在常規和高級SEM成像應用中均可實現高生產率。它還包括高級用戶控制的漂移校正。這對於準確和快速獲取圖像非常重要,因此減少了掃描所需的時間。S-570與一系列自動化和運動控制系統完全兼容,可以快速輕松地設置復雜的SEM成像任務。此外,開放式平臺允許與各種成像系統和自動化軟件輕松集成,從而增強了可用成像應用程序的範圍。最後,S 570旨在以具有競爭力的價格提供卓越的性能。這使得HITACHI S-570任何需要高分辨率成像和分析的材料科學應用的理想選擇。
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