二手 HITACHI S-7000 #76295 待售
網址複製成功！
單擊可縮放
ID: 76295
晶圓大小: 4"-6"
優質的: 1991
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm, 1 kV (150 angstroms)
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement range: 0.05-100 microns
Electron beam source: Field emission electron gun
Lens system: 2-Stage electromagnetic lens reduction
Auto loader: Single cassette, random accessing
Objective lens aperture: Movable aperture (4 openings selectable / Alignable outside column)
Stigmator: 8 pole electromagnetic type (X,Y)
Scanning coil: 2-Stage electromagnetic type
Specimen stage movement:
X-direction: 150 nm
Y-direction: 150 nm
Z-direction working distance: 5-15 mm
T-tilt angle: 0° to 60°
R-rotation angle: 360°
Accelerating voltage: 0.7~3 kV
Emission extracting voltage V1: 0~6.3 kV
1991 vintage.
HITACHI S-7000掃描電子顯微鏡（SEM）是最先進的科學儀器之一。S-7000是一種高度精確的工具,用於研究各種環境中的樣品,並提供納米級（分辨率小於1微米）的詳細圖像。為了產生可靠的圖像，SEM使用電子束和幾個元件進行檢測、聚焦和成像。高壓電源可以將電子束加速到30 KV,從而可以在低放大倍數到高放大倍數範圍內進行分析。然後一個冷凝器透鏡將電子束聚焦到樣品上，可以用檢測器檢測反向散射的電子進行地形成像。探測器還允許通過檢測X射線光譜儀的信號來進行元素映射。為了獲得最高的精確度和準確性，HITACHI S-7000利用完全計算機化的設備進行軟件和硬件控制。它旨在在各種操作條件下生成準確的圖像,並保持最高級別的圖像清晰度。此外,由於S-7000先進的電動控制系統,SEM能夠在不需要手動調整的情況下一致運行。HITACHI S-7000還具有一個集成的「樣品處理」系統,該系統允許通過自動化單元安全、輕松地翻譯、旋轉或操作樣品。換句話說，S-7000消除了人工處理標本的需要，這大大降低了汙染或標本在成像過程中受損的風險。此外,HITACHI S-7000還能夠根據示例類型和操作參數生成各種變量。這意味著此SEM的功能在不同條件下具有很高的適應性和可靠性。總體而言，S-7000是微結構和納米樣品分析的寶貴工具。HITACHI S-7000具有廣泛的操作靈活性、精確的成像功能和自動化的樣品處理機,是一種出色的樣本成像工具。
還沒有評論