二手 HITACHI S-7000 #9282901 待售
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ID: 9282901
晶圓大小: 4"-6"
優質的: 1989
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 4"-6"
Secondary electron image resolution: 15 nm (150 angstroms) at 1 kV
Magnification: 100x to 100,000x
CD Measurement Range: 15 Å (15 nm)
Re-producibility: ± 0.02 µm / ±1%
Electron beam source: Field emission electron gun
Accelerating voltage: 0.7-3 kV (100 V/Step)
Measurement range: 0.1- 200 µm
Auto-focus and auto-stigmation
Automated CD measurement
Multi point measurement capability
Programmable stage: Up to 60° Tilt
1989 vintage.
HITACHI S-7000掃描電子顯微鏡（SEM）是一種多用途、功能強大的科學家和工程師成像工具。它具有三納米的分辨率，放大倍數達到10萬倍的能力。S-7000 SEM提供高速圖像采集和各種成像功能。HITACHI S-7000利用正在觀察的電子和目標材料之間的相互作用來產生圖像。入射電子在與樣品相互作用之前經過一系列透鏡。這種相互作用產生了一系列二次電子和反向散射電子，這些電子可以用來創建樣品的圖像。通過其掃描系統,S-7000允許用戶調查大的表面積,或仔細查看細微的細節。HITACHI S-7000包括手動和計算機控制的示例操縱器。這允許用戶在檢測器視場中輕松移動、旋轉和傾斜樣品。通過選擇鏡頭,用戶可以選擇其應用程序的最佳成像設置。S-7000 SEM配備了先進的定量圖像分析系統,使用戶能夠更準確地測量樣品的大小和形狀。這一特性使得HITACHI S-7000特別適合於形態學研究和測量。S-7000 SEM還提供一系列高性能探測器,允許用戶根據需要捕獲X射線、EDS、EELS、CL和BSE圖像。SEM包括一個用於樣品安裝的平臺以及一個易於拆卸和更換的原位真空室。總體而言，HITACHI S-7000是任何需要高度可靠、精確和通用的掃描電子顯微鏡的研究項目或環境的絕佳選擇。S-7000具有高分辨率成像、先進成像能力和廣泛的定量成像分析功能,是任何背景的科學家和工程師的理想選擇。
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