二手 HITACHI S-7840 #293667159 待售
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ID: 293667159
晶圓大小: 6"-8"
優質的: 2007
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 6"-8"
Loader unit, 6"
Vibrating table
Cassette mount non-functional
Measurement range: 0.3 - 2.5 µm
Measurement repeatability: 0.005 µm of ±1%
Secondary electron image resolution: 4 nm
Image magnification: 1000 - 150 kx
Electron optics:
Electron gun: Schottky emission type
Accelerating voltage: 0.7-15 kV
Thermal thin film movable aperture
Accelerating voltage step:
100 V step (0.7 kV - 3.0 kV)
1 kV step (4.0 - 15 kV)
Optical microscope:
Corner view, 1.2 mm
Monochrome image with CCD Camera
Observation area:
X Axis: 5-195 mm
Y Axis: 5-140 mm
Specimen stage:
X and Y Traverse motion: 0-200 mm
Z Traverse motion: 2, 4, 5, 7, 12 mm
Tilt: 0-60°
Rotation: 0-300°
Stepping motor drive
5-Axis PC Control
Stop accuracy: ±5 µm
Wafer loader:
Auto transfer: Cassette to cassette
Wafer transfer: Loader chamber to stage
Measurement data processing system:
Hard Disk Drive (HDD)
Optical magnet disk, 3.5"
Floppy disk, 3.5"
80-Digit thermal printer
Vacuum system:
Automatic dry clean vacuum system
(3) Ion pumps
(2) Turbo molecular pumps
(2) Rotary / Dry pumps
B2600 Workstation
Operating system: HP Unix
2007 vintage.
HITACHI S-7840掃描電子顯微鏡（SEM）是一種通用、可靠的分析儀器.它是一種超穩態分析儀器，其設計符合材料特性的最高要求。這種先進可靠的能力是廣泛的工業、大學和研究實驗室應用的絕佳選擇。HITACHI S 7840具有許多獨特的功能,使其與市場上的其他顯微鏡脫穎而出。這些特性使用戶可以通過最小化散光、光學像差、偏轉誤差和振動獲得最大分辨率和對比度。這使得用戶可以獲得無與倫比的清晰度和細節的顯微鏡圖像。S-7840具有可容納出色視覺觀察的大視口,並配備了自動化的XY-Z操縱桿舞臺,使用戶無需其他顯微鏡手動操作即可快速操作標本定位。這使得樣品定位具有無與倫比的靈活性，減少了制備所需的時間。S 7840擁有先進的超高真空（UHV）電子探測器，允許對非金屬試樣表面進行高分辨率成像。這是一個在許多其他顯微鏡上不可用的基本特征，它允許用戶精確檢查和分析任何表面，無論其性質如何。HITACHI S-7840擁有一系列先進的電子源和成像選項,使其能夠在廣泛的低壓到高壓應用和成像分辨率中進行成像和采樣。這使得該儀器用途廣泛，足以滿足大多數研究和工業需求，使用戶能夠準確地捕捉更高分辨率的圖像，並在原子層面上精確地復制結構。HITACHI S 7840還包括多種用於圖像處理和數據分析的軟件和控件。該軟件可用於多個功能，包括自動化樣品準備、圖像處理、數據分析和樣本分析。該軟件用戶友好且易於學習，即使對於大多數新手用戶來說也是完美的。S-7840是尋找先進研究顯微鏡的人的絕佳選擇。憑借其先進可靠的功能、靈活性和直觀的軟件，它是任何需要可靠、通用的掃描電子顯微鏡的用戶的絕佳選擇。
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