二手 HITACHI S-7840 #293815241 待售

HITACHI S-7840
製造商
HITACHI
模型
S-7840
ID: 293815241
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD‑SEM).
HITACHI S-7840是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對各種材料和樣品進行高級檢查和分析。此高級工具可提供高達500,000倍的最高分辨率,並具有無與倫比的解決細節的能力,提供最高清晰度。HITACHI S 7840具有可變壓力探測器、兩種電子槍系統的選擇以及提供綜合層次分析和成像能力的雙探測器配置。S-7840利用可變壓力技術減少非導電樣品的充電,並具有超高真空和其他真空模式下自動觀察、測量和檢查的能力。可變壓力檢測器消除了較大非導電樣品的汙染產生,增加了系統在各種應用中的效用。野外發射槍(FEG)和熱電子槍(TEG)這兩種電子槍系統提供高分辨率和靈敏度。S 7840還通過其專門的軟件套件提供自動定向分析和形狀識別功能。樣品自動對齊,軟件可以在一系列材料中自動檢測、測量和報告顆粒和微結構的形狀。這一高級功能幫助用戶獲得高度精確的尺寸測量,並通過高級自動化快速獲得樣品的各種特性。HITACHI S-7840還通過其自動圖像采集系統(AIAS)提供高精度。此可選功能允許用戶以最短的時間和精力自動獲取圖像。AIAS提供模式識別功能,使其能夠自動調整樣本的視場並獲取圖像以提高效率。此外,HITACHI S 7840還憑借先進的掃描和自動對焦功能、自動推進器控制和無振動移動等先進功能提供了最佳成像環境。這些功能可幫助用戶最大限度地提高成像能力,提高結果的準確性和質量。總體而言,S-7840是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,它為詳細的小規模成像、分析和檢查提供了高分辨率和清晰度。它提供了最新的分析功能和自動化的樣品處理,使研究人員和工程師能夠發現對各種材料的微觀結構的詳細見解。
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