二手 HITACHI S-806 #293634215 待售
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ID: 293634215
Field Emission Scanning Electron Microscopes (FE-SEM)
Maximum specimen size, 6"
Secondary electron image
Resolution: 6 nm (60 A) - 25 kV
Magnification: 50x - 100,000x
Manual loader, 6"
(3) Ion pumps
Stage controller
Detecter
Turbomolecular pump
Keyboard
Display Unit
Specimen stage:
Movement range:
X and Y: 0 to 150 mm
Stage drive: Pulse motor control
Joystick control (Auto eucentric)
Z (WD): 5 - 35 mm
Rotation: 360°
Tilt: 0 - 60°
Electron optics:
Electron gun: Cold field emission type
Accelerating voltage: 0.5 - 5 kV (variable in 0.1 kV step) / 5 - 25 kV (variable in 1 kV step)
Emission extracting voltage: 0 - 6.3 kV
Lens system: 2-stage electromagnetic lens
Objective aperture: click-stop type 4 openings, alignable outside column, self-cleaning type thin aperture
Scanning coil: 2-stage electromagnetic type
Stigmator: 8-pole electromagnetic type (X, Y)
Control and display system:
Scanning modes
Viewing CRT
Digital image registration computer system.
HITACHI S-806掃描電子顯微鏡（SEM）是一種多模式、高性能的SEM,能夠以納米級分辨率的高放大倍率查看樣品。HITACHI S806能夠產生二次電子、反向散射電子和俄歇電子圖像，以及X射線光譜、化學態圖和其他元素表征數據。S 806以野戰發射槍（FEG）源為特色，提供極佳的光束穩定性和最小化因氣體條件而產生的變化，允許更高的精度和測量結果。FEG源具有高達30 kV的0.5的可變加速電壓，工作範圍為1-25 kV。為了最大限度地提高樣品的觀看和成像能力,HITACHI S 806配備了各種用於調整掃描大小、分辨率、放大倍率和對比度的命令。SEM樣品室足夠大，可用於100 x 100 mm的樣品，並且有一個環境室可用於控制大氣和壓力。S806還使用像素大小為5 x 5微米的12位SEM成像檢測器來產生高細節水平的圖像。為了確保精確的結果，S-806能夠將各種探測器與SEM系統集成在一起。這些探測器包括功率光譜儀、復合材料復合分析和半定量分析的探測器，以及確定樣品高度的光學探測器。HITACHI S-806可以與傳統的立體顯微鏡配合使用來捕捉3 D圖像。它還支持各種自動化的舞臺選項，以簡化樣品加載、定位和測量。總體而言，HITACHI S806掃描電子顯微鏡的先進特性使其成為納米級成像和表征的理想選擇。其通用、精確的功能、FEG源、自動化的舞臺支持以及各種檢測系統，使得在廣泛的科學應用中都能獲得準確的結果。
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