二手 HITACHI S-8820 #293621554 待售

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製造商
HITACHI
模型
S-8820
ID: 293621554
晶圓大小: 6"
優質的: 1995
Scanning Electron Microscope (SEM), 6" SECS Electron gun: Schottky tip Accelerating: 800 V Probe current: 6 PA Stage: 6"-8" Workstation: B180 No pumps Non-functional: Stage controller EVAC Controller 1995 vintage.
HITACHI S-8820 Scanning Electron Minccope是一種SEM,專為廣泛的應用而設計,從分析有機或無機樣品的元素組成到3D分析和動態事件的實時成像。設備的高性能放大光學、二次電子探測器和X射線探測器保證了精湛的精密成像。HITACHI S 8820掃描電子顯微鏡配備了幾種采集模式和先進的分析能力,如二次電子成像、反向散射電子成像、EDS(能量色散X射線光譜)和EBSD(電子反向散射衍射)。系統的高性能放大光學器件確保了成像的清晰度和清晰度,而在SEM中更容易觀察到功能的小尺寸。掃描電子顯微鏡還提供了使用EDX(能量色散X射線)映射來觀察動態事件和分析三維特征的能力。特征跟蹤單元允許實時研究動態事件。EBSD機允許晶粒結構、紋理和晶體取向的測定。低真空工具可以對非導電樣品進行成像,而環境和塗層系統可以研究環境影響,表征界面反應以及添加和去除薄塗層。可選的鏡頭內成像資產最大程度地減少了反向散射,並增強了SEM的整體性能。此外,S-8820掃描電子顯微鏡提供了一個更大的樣本室,用於大尺寸樣品和更大的成像視野。它的高分辨率和長工作距離允許顯微鏡和分析技術的結合。SCATRAP裝置是模型上的一個有用特性,通過抑制殘留氣體的影響有助於提高成像分辨率。可以控制標本室的大氣來分析易碎顆粒。S 8820掃描電子顯微鏡提供了許多分析能力,使其成為從質檢到研究和教育領域廣泛應用的合適工具。它提供自動對齊、樣品加載和分樣等自動化流程。
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