二手 HITACHI S-8820 #9266234 待售

HITACHI S-8820掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高端、標桿模型，用於世界各地的各種科研領域。顯微鏡利用野外發射槍（FEG）與先進的檢測系統相結合，以1,000至300,000X的放大倍率獲得樣品的高分辨率圖像。SEMs，如HITACHI S 8820，在從醫學到材料科學的各種領域，對標本表面提供了豐富的地形和化學分析。儀器的FEG對圖像的精度和精度至關重要。FEG發射窄電子束，束的直徑與束的電壓成反比。電子束的直徑也決定了圖像的分辨率；較小的光束直徑可實現較高分辨率的圖像。S-8820的FEG在3KV、5KV、10KV和「高真空」1KV模式下運行，提供對電子束的優越控制。S 8820掃描電子顯微鏡采用了先進的檢測系統來獲得最佳的圖像質量。各種探測器一起從樣品、體積或表面捕獲反射電子，提供了比傳統光學顯微鏡更多的數據。HITACHI S-8820提供了一個SE信號檢測器，它以高精度測量電子反射信號的數量，以及一個用於改進元素和表面特征分析的BackSpectrist Electron Detector（BSD）和一個具有深度輪廓成像連續可變電壓的Secondary Electron Detector（SED）。HITACHI S 8820掃描電子顯微鏡包含一個二次電子成像模式，提供了一個樣品的構成和結構的深度觀察，而不需要樣品準備，這種操作模式允許對多孔、纖維和不規則標本的快速成像。此外,S-8820還具有環境SEM （ESEM）模式,無需表面制備或表面塗層,即可用於對水合材料或軟材料進行成像。此模式允許用戶在其本機條件下捕獲對象,從而獲得更準確的結果。S 8820的靈活性和範圍使其能夠無縫集成到任何實驗室環境中。顯微鏡的用戶友好型設計和自動化功能使科學家能夠自由地以任何最有利於他們項目的方式進行研究。最先進的斷層掃描和3D成像功能允許進行無與倫比的結構和質量分析。HITACHI S-8820與高功率的分辨率和易於使用的用戶界面配合使用,為科學家提供了一種用於專業研究的寶貴工具。