二手 HITACHI S-8840 #9077721 待售

HITACHI S-8840是一種高精度操作的掃描電子顯微鏡（SEM）設備，允許廣泛的應用。這對於檢測樣品表面結構、精確測量納米尺寸特征以及表征材料的電學和化學性質是有益的。HITACHI S8840提供高性能和高質量的成像和分析能力。該系統采用集成式高真空裝置,可實現高真空操作.這樣可以實現更高分辨率的成像和更好的分析性能。此外，低真空和中真空模式能夠對表面和非導電材料進行無損成像。S 8840融合了幾種類型的探測器，包括次級和反向散射電子探測器、高性能能量色散X射線（EDX）探測器和內置的高靈敏度法拉第杯。這些探測器一起可以檢測各種電子和X射線信號。EDX探測器特別強大，能夠以原子分辨率對樣品進行元素分析。高性能的法拉第杯允許對弱二次和反向散射的電子信號進行精確分析，同時最大限度地減少樣品的充電。HITACHI S 8840還具有可用於實現更高分辨率成像的高分辨率野外發射槍（FEG）。FEG支持高質量的亞納米成像和高速掃描成像,每幀高達0.75毫秒。而且，S-8840在原位微操作、原位化學分析、實時3D-reconstruction等先進應用方面裝備齊全。原位微操作允許精確控制標本和隨後的分析。通過原位化學分析，可以在SEM室內對樣品進行直接化學分析，樣品就地放置，避免將其移至單獨的分析室內。利用實時3D-reconstruction,通過記錄樣品表面旋轉時的圖像來創建高精度3D圖像。最後,S8840具有創新的自動著色校正功能,可自動調整檢測器增益,從而對非均勻曲面進行更好的成像。簡而言之，HITACHI S-8840是一種先進的掃描電子顯微鏡機器，具有廣泛的特性和功能。由於集成了真空工具和各種探測器，它提供了出色的成像質量和元素分析能力。其先進的功能使其成為高精度表面測量和表征的理想解決方案。