二手 HITACHI S-9220 #9041829 待售

HITACHI S-9220
製造商
HITACHI
模型
S-9220
ID: 9041829
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Type: SMIF.
HITACHI S-9220是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於在緊湊的封裝中提供高質量的成像和特征檢測。這種掃描電子顯微鏡是專門為納米級成像和特征檢測而設計的,是一種可靠準確的工具。它能夠在納米級提供高質量、敏感的地形和元素特征成像。HITACHI S9220在5kV時的分辨率為0.6nm,在掃描模式下放大倍數為50,000倍。標本尺寸直徑約12mm,允許更大的樣品和標本進行更大細節的成像。操作方面,S 9220擁有集成的自動化掃描設備,用於更快、更精確的掃描。為了多功能性,它既有反向散射電子和二次電子成像,也有單點和多點停止檢測。在成像方面,S-9220包含多種成像能力,如反向散射電子(BE)檢測器、二次電子(SE)檢測器和多點停止檢測。SE探測器以較高的分辨率提供較輕元素的清晰圖像,而BE探測器提供地形信息以更好地了解樣品的表面結構。多點停止檢測允許精確定位納米尺寸的特征。此外,HITACHI S 9220還具有集成的電動掃描系統,可更快、更精確地進行掃描。S9220還能夠成像非導電樣品,如聚合物,因為它的現場發射源技術。它有一個聚焦柱二次電子探測器,可以更好的空間分辨率和改進的小特征成像。HITACHI S-9220還有一個自動化的樣品制備環境,允許立即準備批量樣品。自動化的特征映射技術使得精確檢測和繪制特征變得容易,有利於質量控制應用。最後,HITACHI S9220具有用戶友好的界面和直觀的控件,使新手和經驗豐富的操作員都能輕松使用。此外,顯微鏡的安裝單元中還有各種配件可用於各種實驗,如低真空適配器、高真空適配器、旋轉級、傾斜級、能量選擇器和光學視頻機。這些附件提供了在各種條件下進行實驗和準確分析結果的靈活性。
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