二手 HITACHI S-9220 #9261868 待售

HITACHI S-9220
製造商
HITACHI
模型
S-9220
ID: 9261868
晶圓大小: 8"
Scanning Electron Microscope (SEM), 8".
HITACHI S-9220是一種高分辨率、冷場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM),專為高放大成像和微米大小特征分析而設計。顯微鏡能夠以最大150000X的倍率和最小1.5納米的分辨率工作,從而能夠對樣品進行高度詳細的成像和分析,直至原子水平。HITACHI S9220采用低能冷場發射電子源(CFES)進行最佳電子束穩定性,采用5軸級進行高通量樣品處理。CFES也有助於提高顯微鏡的分辨率,允許改進成像和樣品的詳細分析。磁場發射電子源還允許在低真空條件下使用Ever-Ready Beam (ERB)進行成像。這改善了吸附或蒸發分子樣品的成像和通量性能。S 9220還配備了多種探測器,包括反向散射電子(BSE)、二次電子(SE)和X射線探測器。BSE檢測器可用於獲取樣本地形信息,而SE檢測器可用於獲取元素分析和觀察表面紋理。X射線探測器能夠獲取能量色散X射線光譜(EDX)和波長色散X射線光譜(WDX)信息。HITACHI S 9220 SEM能夠使用一系列低溫聚焦離子束(FIB)系統自動制備樣品。這包括執行自動樣品對準和樣品加載、自動順序成像和樣品粒度分布數據采集的能力。這消除了手動示例加載的需要,並大大提高了吞吐量。最後,S9220 SEM有一個大型4托架自動樣品交換器。這允許自動化多個示例,並具有自動化的加載和卸載功能,從而能夠快速訪問各種示例。此功能大大提高了成像和分析吞吐量。總體而言,S-9220是一個高度先進、全自動的FE-SEM,用於高分辨率成像和微米大小的特征分析。它結合了高放大倍率、最先進的CFES和自動化樣品制備系統,使其成為高度復雜樣品成像和定量分析的理想選擇。
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