二手 HITACHI S-9380 II #293761864 待售

HITACHI S-9380 II
製造商
HITACHI
模型
S-9380 II
ID: 293761864
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
HITACHI S-9380 II是一種掃描電子顯微鏡(SEM),能夠提供納米尺度範圍內的高分辨率成像和分析。它旨在方便多種應用,如半導體薄膜層評估、材料表征、3維地形和金相。SEM配備了新型電子槍SuperBrightEBeam,大大降低了圖像的像差和失真。該設備利用冷陰極場發射型電子源,最大限度地提高穩定性,確保運行一致。電子束對STEM(掃描透射電子顯微鏡)水平敏感,提供高分辨率成像。SEM可以在通用的高分辨率或低壓模式下操作。高分辨率模式利用能量濾波成像提高分辨率和零損耗成像解決二次電子(SE)、反向散射電子(BE)等問題。低壓模式更適合於成像表面元件和有機材料。還具有色彩3D-SE-BE圖像協同作用。對於傳輸模式成像,SEM配備了探針照明系統,以廣譜光照射樣品,減少圖像中的噪聲。該單元還兼容SE、BE和EDX等探測器進行元素分析。SEM配備了樣本室,樣本室容量為2.5毫米~ 10.0毫米(H) x 6.0毫米~ 10.0毫米(D)。試樣室還設計用於對樣品進行傾斜和旋轉,並利用真空功能和氣體機提供安全操作。人性化的界面使操作簡單,所有設置都可以快速調整。高級分析功能,如主要和次要相位分析、圖像恢復和TEM衍射圖樣,提供了盡可能多的分析。HITACHI S9380 II掃描電子顯微鏡是一種有效、通用的工具,適用於需要在納米尺度範圍內進行高精度成像和分析的研究人員。
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