二手 HITACHI S-9380 II #9241975 待售

HITACHI S-9380 II
製造商
HITACHI
模型
S-9380 II
ID: 9241975
晶圓大小: 12"
優質的: 2006
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD SEM), 12" 2006 vintage.
HITACHI S-9380 II是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於觀察、成像和分析各種材料的表面特征。該顯微鏡具有高達200kV的加速電壓,可提供高分辨率成像,並可產生低至5nm分辨率的圖像。HITACHI S9380 II是一種可變壓力型SEM,包括高真空、可變壓力(LVP)和低真空(LV)的功能。可變壓力SEM操作在LV和LVP模式下的獨特放電控制提供了改進的非導電樣品成像,也增強了樣品表面表征的分析能力。S-9380-II具有專用電視攝像機、虛擬STEM放大鏡、多點和多列功能。電視攝像機提供三種攝像機的選擇,以適應用戶的需求。同時運行最多兩個目標可以快速獲取圖像。具有多放大倍數的虛擬STEM放大鏡,以不同放大倍數提供了廣泛的樣本觀測。任何放大倍數設置的多個點都可用,這有助於提供斷層掃描分析或大面積勘測。此外,多柱系統是多個掃描範圍的組合,可用於獲取幾個角度的圖像,以便進行有效的觀測。S9380 II包括多種分析能力,如能量色散X射線分析(EDX)和陰極發光分析。用於元素組成分析的EDX可用於高真空模式和低真空模式。它還配備了PASENDI,這是一種化學成像系統,可實現樣品中特定元素的2D分布。陰極發光(CL)分析有助於分析樣品在受到高能電子束激發時的光發射。除了EDS和CL之外,HITACHI S 9380 II還可以進行電子反向散射衍射(EBSD)和單束和雙束分析。在其標準配置中,S-9380 II隨附EDAX SIMS 180C,先進的電子成像裝置,以及二次和反向散射電子探測器的選擇。它配有多種優化配件,便於樣品安裝和分析。簡而言之,HITACHI S-9380-II提供了高性能、可靠和經濟高效的掃描電子顯微鏡,非常適合材料研究、納米技術、光電子學和生命科學等多種應用。
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