二手 HITACHI S-9380 II #9241982 待售

HITACHI S-9380 II是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在為用戶提供先進的成像能力，使他們能夠更詳細地可視化和分析復雜的樣品結構。該系統配備了高性能、大面積的現場排放源（FES），以確保最高分辨率的成像，同時為各種應用提供廣泛的成像和分析技術。它能夠實現低至亞納米尺度、大於2 nm的分辨率,並具有高速圖像處理和數據采集功能。它非常適合許多成像應用，如先進的半導體故障分析、金相、過程監測、汙染物檢查和故障分析。SEM配備了全方位的自動化樣品和舞臺控制選項。這包括具有低漂移的高精度XY級、改進的精度和可重復性特征以及創新的采樣室設計。雙模采樣相機自動化除了控制角度采樣外，還提供高速聚焦和導航到腔室內任何位置。控制軟件具有直觀的命令和圖像處理工具，便於使用和設置。SEM還配備了X射線能量色散光譜（EDS）和能量過濾成像（EFI）等先進檢測系統，以提供低噪聲和增強汙染檢測能力的銳細圖像。標本架設計用於容納包括液體和真空標本在內的各種樣品，有多個標本架和選項可供選擇。它包括一個電子束槍，它提供了一個入射束角度調整，以最大的靈活性在檢測感興趣的區域。試樣平臺也可配置用於傾斜和旋轉測量。在成像方面,HITACHI S9380 II配備了一個高分辨率、低噪聲的攝像頭,可捕捉到高達0.2 nm的細節。通過更快的數據傳輸,可以快速保存圖像,從而加快用戶之間的數據共享。相機還提供了廣泛的視頻模式選擇，允許對圖樣或圖像質量進行可靠的分析。此外，S-9380-II系統還經常用於具有自動光譜分析、粒子識別和光譜叠加等分析特征的高靈敏度元素分析。總體而言,S-9380 II是一種功能強大的掃描電子顯微鏡,可提供高級成像和分析功能。它為用戶提供了可視化和分析復雜結構到亞納米尺度的能力。高精度的樣本和舞臺控制、直觀的控制軟件以及先進的檢測系統為用戶提供了一系列應用所需的靈活性和準確性。