二手 HITACHI S-9380 II #9251047 待售
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ID: 9251047
優質的: 2004
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM)
2004 vintage.
HITACHI S-9380 II是一種掃描電子顯微鏡（SEM），由細絲和微柱並聯組成的電子槍。這款SEM配備了場發射槍（FEG），提供了更好、更可靠的電子源。FEG具有照明面積小、柱長短、電子束散度極低、分辨率高、通量高的特點。HITACHI S9380 II能夠測量直徑最大為20毫米的樣品，並具有較大的樣品室，便於樣品在各種位置裝卸。最大放大倍數可達3,000,000X,可以掃描任何方向的樣本。它有一個大端口和一個用於SE/BSE和離子束的小端口。此外，S-9380-II還具有低振動標本級和高穩定性數字控制設備，用於準確、可重復地控制標本級運動。為了保持電子束的正確對準，S-9380 II要求在操作過程中進行較低的樣品維護，其新開發的控制軟件用於自動調節roda波形的功能。除了其自動功能外，菱形碳膜（COPI）塗層型野外發射槍允許在變化的加速度電壓下具有極高的分辨率。HITACHI S 9380 II的放大能力和先進的電子光學使研究人員能夠在一個系統中測量範圍廣泛的樣品。不僅S 9380 II能夠在納米水平下檢測細節，而且還提供了高精度測量表面積的能力。它具有電子束高精度對準所帶來的卓越表面映射能力，並聚焦於表面以創建納米比例尺分辨率圖像映射。S9380 II還具有一個小型X/Y移動單元,可以掃描不均勻的樣品,同時保持高分辨率。這意味著它對於故障分析和微結構檢查等應用來說是一個非常有用的工具。最後，這臺機器與選擇性區域電子照射兼容，對樣品周圍區域不造成降解，以便對樣品進行修飾。總之，HITACHI S-9380-II是一種使用FEG電子槍的高度先進的掃描電子顯微鏡，能夠對各種樣品進行詳細的納米測量。其先進的成像和電子光學為研究人員提供了除了測量和繪制樣品表面積之外，還能準確診斷樣品上的缺陷和結構特征的能力。X/Y工具和選擇性區域電子輻射資產對樣品進行了詳細的檢查和修改，進一步擴大了HITACHI S-9380 II的能力。
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