二手 HITACHI S-9380 Type II #9276374 待售
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ID: 9276374
晶圓大小: 12"
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 12"
VID: VID753
Resolution: 2nm
Throughput: 33 Wafer/h
MAM Time: 4.0 Sec
Stage landing accuracy: ±1μm.
HITACHI S-9380 II型掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高度精密的分析工具,用於以各種放大倍數檢查樣品和基板。它在技術界和研究界很受歡迎,因為它有能力制作具有五維分辨率的掃描物體的詳細圖像,包括長度、寬度、深度、位移和方向。儀器配備掃描電子柱,在掃描模式下加速電壓高達0.30 kV至15 kV,電流高達10 A。這種功能強大且用途廣泛的系統使用戶能夠生成樣本的詳細圖像,有效放大倍數可達500,000X。此外,設備的對齊系統提供對掃描區域的精確控制,使用戶能夠獲得最準確的圖像和分析。SEM包括一個廣角光學視圖、高視角和視野的柱內二次電子探測器,以及一個大光圈鏡頭,允許用戶以高度清晰、清晰、清晰的方式捕捉圖像。由於具有數字成像功能,S-9380 Type II SEM可產生分辨率高達1.25 nm的圖像,並能夠以高達五維分辨率捕獲圖像。此外,板載X-EDS系統允許用戶借助真空殼室進行能量色散X射線光譜分析。此功能使用戶能夠快速分析樣品中元素的化學成分和不同濃度。此外,HITACHI S-9380 Type II還配備了低真空特性,允許用戶在自然環境中觀察非導電樣品。除了其功能外,S-9380 Type II設備還擁有一個用戶友好的界面,並配有一套圖像處理工具,使用戶能夠有效地處理其圖像。這使得它適合於材料科學、半導體、冶金、地質、各種物理科學研究等多種應用。總體而言,HITACHI S-9380 II型掃描電子顯微鏡為用戶提供了一個功能強大、用途廣泛的工具,用於進行徹底、詳細的成像和光譜分析。其用戶友好的界面和高度先進的技術使其成為各種研究和技術應用的理想選擇。
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