二手 HITACHI Scanning Electron Microscope (SEM) #293672028 待售

HITACHI掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的分析工具,能夠以極高的放大倍率和無與倫比的細節查看樣品。在掃描電子顯微鏡（SEM）中,快速掃描的一次電子束在一個表面上掃描,產生各種二次信號,然後對其進行分析以創建樣品的詳細圖像。SEM裝有鎢絲電子源，電子束加速到1-20千伏之間。光束被聚焦成0.5-2.0微米之間的光束大小，從而可以進行極高的分辨率分析。光束與樣品的相互作用產生二次電子、反向散射電子、俄歇電子、X射線和陰極發光，它們由電磁探測器陣列或電荷耦合裝置（CCD）攝像機檢測到。特殊的透鏡可以應用在光束上創建立體圖像，這對於三維分析特別有用。SEM還帶有幾個附件,可用於進一步分析樣品.其中一種裝置是能量色散X射線光譜儀，它提供了所研究樣品的定性和定量元素組成。電荷耦合器件（CCD）相機為離線分析和歸檔提供圖像。HITACHI SEM還開辟了一系列成像技術，如二次和反向散射成像、相位對比度成像和低壓成像。這提供了一系列復雜的成像功能,可用於分析與樣本相關的各種屬性。HITACHI SEM的優勢包括：高分辨率成像功能、多種成像技術、自動化樣品準備和分析、大深度的景深和分辨率,以及能夠以高達100萬倍的倍率實現出色的對比度、亮度和顏色。HITACHI SEM憑借其精湛的成像分辨率，因其包括材料研究、金相、微加工和藝術保護在內的眾多應用而日益受到大學、研究機構和行業的歡迎。它是一種非常有效的工具，用於檢查樣品的特征和特性，並提供令人難以置信的樣品結構細節。