二手 HITACHI SU-70 #293829714 待售
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ID: 293829714
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Schottky electron gun
Signal control: SE, BSE
Super ExB filter
Magnetic flux
Charge-up imaging
Semi-in-lens mode
High probe current: 100 nA
Cryogenic sample stage
Compositional-contrast imaging
EBSP analysis by field-free mode
Ultra-high resolution: 1.0nm/15kV, 1.6nm/1 kV
Ultra-low accelerating voltage for shallow surface observation
Sample chamber designed for a wide range of analytical accessories
Detectors: EDX, WDX, EBSP, STEM, BSE, CL.
HITACHI SU-70是一種強大的掃描電子顯微鏡(SEM),旨在為廣泛的材料和樣品提供高分辨率的成像和元素分析能力。這臺先進儀器配備了尖端技術和功能,使研究人員、科學家和工程師能夠以非凡的細節和精確度研究各種樣品的微觀結構和表面特性。HITACHI SU70的核心是一個高性能的電子光學系統,它產生一個聚焦電子束,用於成像和分析。SEM利用熱電子電子源產生高度準直的電子束,在樣品表面上掃描以創建高分辨率圖像。電子束與樣品相互作用,產生二次電子、反向散射電子、特征X射線等信號,被檢測出來並用於生成詳細的圖像和定量數據。SU 70配備了一系列探測器和成像模式,以適應不同的分析需求。該儀器的特點是二次電子成像用於地形信息,反向散射電子成像用於成分對比,X射線微分析用於元素識別和映射。這些成像和分析模式可以結合使用,以實現樣品的微觀結構、組成和性質的全面表征。除了成像和分析功能外,HITACHI SU 70還提供先進的自動化和用戶友好軟件,以實現高效的操作和數據處理。該儀器設計直觀易用,具有用於樣本導航、光束對準和數據采集的自動化功能。軟件界面允許用戶輕松控制儀器參數、調整成像設置、分析結果。SU70具有具有多個運動軸的機動化級,允許用戶精確定位樣品並針對特定的目標區域進行成像和分析。舞臺可以手動控制,也可以通過軟件界面控制,使用戶能夠掃描大面積,創建高分辨率圖像,並進行精確度和可重復性的元素映射。憑借其先進的能力和用戶友好的設計,SU-70是一個非常寶貴的工具,用於廣泛的科學和工業應用。研究人員可以利用SEM來研究材料的微觀結構,研究表面特性,分析缺陷和汙染物,並以非凡的細節和精確度表征納米顆粒和薄膜。工程師可以利用SEM在包括半導體、汽車、航空航天和材料科學在內的各個行業中進行質量控制、故障分析和工藝優化。總之,HITACHI SU-70是一種最先進的掃描電子顯微鏡,為研究、工業和學術界的各種應用提供高性能成像和分析能力。憑借先進的技術、自動化功能和用戶友好的界面,SEM使用戶能夠以前所未有的清晰度和精確度探索微世界,成為科學發現和技術進步不可或缺的工具。
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