二手 HITACHI SU-70 #9049699 待售

製造商
HITACHI
模型
SU-70
ID: 9049699
SEM Used for e-beam lithography Deben beam blanker with controller Deben laser stage with controller NPGS Input relay adapter for e-beam lithography Ion gauges (IP1 and IP2) High voltage tank Water damage: Q1 2013.
HITACHI SU-70掃描電子顯微鏡(SEM)是一種最先進的成像儀器,提供無與倫比的成像質量和多功能性。它具有先進的分析能力,能夠檢查各種材料的樣品。SEM可用於詳細研究各種電子性質,並分析到原子水平的材料。SEM具有較高的成像分辨率,其特點是圖像清晰度極佳,景深較深。通過將所有參數數字化,包括亮度、對比度、顏色等,可以快速輕松地獲取準確的圖像。該儀器還提供了廣泛的圖像增強功能,以展現樣品的精細細節。SEM還具有廣泛的能量能力,允許研究大量能量的材料。這種從極低到高的能量覆蓋使得它適合於表面分析、晶體學、二次電子成像、俄歇電子光譜等多種應用。該系統具有多種自動化功能,如圖像縫合,可用於進一步分析。系統的核心是高分辨率肖特基場發射電子源。這個光源是高度穩定的,產生一個低光斑大小的窄電子束,允許高水平的清晰度和分辨率。SEM允許高達20 kV的加速電壓,允許用戶精確分析各種樣品。HITACHI SU70能夠通過元素分析等選項獲取數據以對樣本進行定量分析。使用EDX探測器可以獲取高分辨率圖像,從而可以詳細分析各種元素和化合物。此外,SEM還配備了自動後散射探測器,非常適合檢查地形。該儀器專為易於使用而設計,具有易於導航的菜單和直觀的軟件。用戶可以快速瀏覽菜單以選擇所需的圖像參數並開始快速成像。SEM還具有高級軟件分析軟件包(如Auto-Focus功能),以幫助識別相關功能,以及功能強大的圖像分析軟件包,允許用戶處理圖像。總之,SU 70掃描電子顯微鏡是一種功能強大、功能豐富的儀器。它提供高分辨率成像、各種樣品類型的能量覆蓋、廣泛的自動化功能以及直觀的軟件。該系統具有向下到原子水平成像的能力,是檢查和分析各種材料的寶貴工具。
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