二手 HITACHI SU-8010 #9412046 待售

製造商
HITACHI
模型
SU-8010
ID: 9412046
優質的: 2014
Scanning Electron Microscope (SEM) SE-BSE EBIC KLEINDIEK X2 Probes BRUKER EDX 6/60 2014 vintage.
HITACHI SU-8010是一種掃描電子顯微鏡(SEM),旨在以亞微米分辨率快速、準確地獲取廣泛材料樣品的詳細形態數據。對顯微鏡的設計和構造進行了優化,以產生從生物樣品到粉末樣品的高分辨率、高對比度的材料圖像。大的景深允許對具有各種樣品形狀、大小和方向的樣品進行精確成像。HITACHI SU8010配備了提供穩定可靠電子束電流的野外發射槍(FEG)源。這種FEG源能夠產生低能量擴散和高亮度的電子束。電子束由優化的Einzel透鏡設備聚焦和光學掃描形成,以提高分辨率和對比度。顯微鏡還利用具有專有圖像處理技術的先進CCD相機系統,產生分辨率高、對比度高的高質量數字圖像。該SEM設計有一個先進的樣品支架單元.支架一次最多可容納3個樣品,也可用於對具有不同光束電流和加速度電壓設置的多個樣品進行同時成像。這使用戶能夠提高所拍攝圖像的信噪比。使用SU 8010也可以拍攝光學圖像。這是使用高壓閃爍器完成的,該閃爍器將真空發射的二次電子收斂成由CCD相機捕獲的視頻信號。這可以讓使用者在用電子束掃描前後觀察標本。對SEM的機械結構進行了穩定性和可靠性優化。利用壓電驅動的X-Y級可輕松精確導航樣品。導航中的精確控制是通過開環控制理論實現的,顯微鏡配備了允許實時同步移動的四軸操縱桿。SU8010是一種精密的掃描電子顯微鏡,旨在為研究人員和技術人員提供一個可靠和準確的工具來調查各種樣品。顯微鏡獲得的高分辨率、高對比度圖像可以提供對材料結構和形態的洞察力。先進的樣品持有機、機械設計和CCD相機工具,使用戶能夠快速輕松地捕捉到準確的圖像。
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