二手 HITACHI TM-3030 Plus #9229603 待售

HITACHI TM-3030 Plus掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的成像工具,旨在提供高分辨率成像能力和納米級精確測量。它能夠創建詳細的3D圖像,並且專門為材料表征、故障分析和研究應用而設計。TM-3030 Plus配備了四個電子源：肖特基場發射源（SFE） FEG源、鎢場發射源（W）、熱場發射源（TFE）源和柱內六硼化的LaB6源。該系統還有一個雙檢測器系統，它同時提供一個InLens檢測器和一個BackSpartered Electron （BSE）檢測器的操作，以允許各種高分辨率成像模式。HITACHI TM-3030 Plus還有一個用戶友好的GUI,它簡化了系統的操作。SEM還采用了高度堅固的設計，能夠長期承受高真空條件，非常適合對納米結構和亞微米粒子進行長期表征和成像。SEM也高度可靠，產生低場發射電流，使其能夠提供高分子和原子分辨率的圖像。另外，TM-3030 Plus利用角度濾波來減少汙染物顆粒對被分析樣品的影響，從而產生更詳細的圖像。它還能夠在大範圍的操作壓力設置和速度下操作，使其適合各種冷凍成像應用。此外,HITACHI TM-3030 Plus還配備了柔和的光束方法,可最大程度地減少成像過程中的樣品損壞,從而對易碎樣品進行成像。SEM還在各種加速電壓下運行,提供高分辨率成像功能。總體而言，TM-3030 Plus是一款功能強大的多合一掃描電子顯微鏡，用於材料表征、故障分析和研究應用。SEM提供了高分辨率的成像能力、穩健的設計、低場發射電流，並為不同的成像模式配備了多個電子源和探測器。此外，它還能夠進行冷凍成像應用，並具有柔和的光束方法，以盡量減少成像過程中的樣品損傷。