二手 HITACHI TM-3030 #293831148 待售

製造商
HITACHI
模型
TM-3030
ID: 293831148
優質的: 2010
Tabletop Scanning Electron Microscope (SEM) Magnification: 15x ~ 30,000x (digital zoom: 2x, 4x) Observation condition: Surface / normal / high brightness Observation mode: Standard mode / charge reduction mode Image mode: Standard / shadow 1 / shadow 2 / topography (concave - convex) Specimen travel range: X: ± 17.5mm, Y: ± 17.5mm Electron source: Pre-centered cartridge filament Detection system: High-sensitivity 4-segment semiconductor Auto image: Auto-start / Auto-focus / Auto-brightness Image format: BMP, TIFF, JPEG Protection function: Overcurrent protection function Room temperature: 15~30℃ (at = within ±2.5℃/h) Humidity: 45%~70% RH Acceleration voltage: 5kV / 15kV PC power supply: Single-phase AC100V, 50 / 60Hz Main unit power supply: Single-phase AC100~240V, 50 / 60Hz, 500VA 2010 vintage.
HITACHI TM-3030是一種通用的桌面掃描電子顯微鏡(SEM),它將先進的成像技術納入一種適合廣泛應用的緊湊設計中。憑借其高分辨率的成像功能和用戶友好的界面,TM-3030為研究人員、工程師和教育工作者提供了在微觀層面觀察微觀結構和分析樣品的有效工具。HITACHI TM-3030的核心是其電子光學系統,其中包括一個鎢熱電子源,產生一個聚焦電子束用於成像。這種電子束通過電磁透鏡和掃描線圈在樣品表面進行控制和掃描,從而能夠精確成像和分析放大倍數在15倍至30,000倍之間的樣品。TM-3030能夠提供最小分辨率為5納米的高分辨率圖像,使用戶能夠以卓越的清晰度觀察精細細節和微觀結構。HITACHI TM-3030有一個容納各種尺寸樣品的大室,使其適合不同領域的廣泛應用,包括材料科學、生物學、地質學等等。該室配有多個探測器,包括二次電子探測器和反向散射電子探測器,允許收集不同類型的信號和成像模式,以增強樣品分析能力。TM-3030的主要優點之一是易於使用和直觀的用戶界面。顯微鏡配有專用的控制面板和軟件界面,可以簡化成像過程,使新手用戶和經驗豐富的研究人員都能訪問。該軟件允許用戶控制成像參數、調整對比度和亮度,並只需單擊按鈕即可捕獲圖像,從而促進高效的樣本分析和數據采集。HITACHI TM-3030還具有自動聚焦和散光校正等智能功能,可優化成像性能並確保高質量的結果。這些功能可幫助用戶快速一致地獲得清晰、集中的圖像,從而提高實驗室環境中的生產力和效率。此外,TM-3030還具備先進的分析能力,包括能量色散X射線光譜(EDS)和電子反向散射衍射(EBSD)選項。這些分析技術使用戶能夠從樣品中獲取元素組成信息和晶體學數據,擴大顯微鏡的材料表征和研究能力。綜上所述,HITACHI TM-3030是一款功能強大的桌面掃描電子顯微鏡,它提供高分辨率的成像、多用途的樣品分析功能和用戶友好的操作,設計小巧高效。TM-3030具有先進的功能和直觀的界面,是研究、行業和教育領域廣泛應用的理想工具,使用戶能夠精確明了地探索和分析微觀結構。
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