二手 HITACHI TM-3030 #9067359 待售
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ID: 9067359
Scanning electron microscope, (SEM)
Tabletop microscope
(5) Image modes: Topography, composite, shadow-1, shadow-2, charge suppression mode
(3) Acceleration voltage modes: 3-stage 5kV, 15kV, 15kV high contrast (high
current)
Detector: Four Quadrant, High sensitivity semiconductor BSE detector
Electron Source: Pre-centered cartridge filament
Sample size: 70mm (W) x 50mm (H)
X/Y traverse: 35x35mm
Auto Image Focus: Auto start, focus and brightness
Data Save Format: jpeg, tiff, BMP
Data display: includes micron marker, micron value, date and time, image number comments
Measurement Software: Point-to-point measurement, text, area markings
Resolution: 30nm
Available Upgrades: X-Ray Chemical Analysis with data cube, expanded
X/Y traverse electronic stage with color camera navigation, sample tilt and rotation accessories.
HITACHI TM-3030是一種掃描電子顯微鏡（SEM），為從半導體到生物樣品的一系列應用提供具有高景深能力的高分辨率成像。TM-3030提供快速樣品交換與三向標本支架和零維護，熱穩定SE探測器穩定成像。冷FEG（場發射槍）源通過多種功率和加速電壓實現快速、高對比度的成像。源和檢測器的自動對準系統便於設置和維護。HITACHI TM-3030包含用於廣域成像（WAI）的大面積探測器。WAI提供低放大倍率的大面積概覽,以減少觀測時間而不影響分辨率。X-Y行程為145mm x 100 mm的電動級允許對大型樣品或多個目標點進行高通量掃描。通過可選的顏色映射通道,TM-3030能夠基於信號的多個組件生成3D彩色圖像。這樣可以更好地顯示復雜的結構和更詳細的信息。HITACHI TM-3030還具有內置的粒子分析系統，可用於識別樣品中的粒子並確定其大小。該軟件可收集多達1000個粒子的數據,並提供有關粒子直徑、面積、數量和表面粗糙度的統計信息。TM-3030由用戶友好、直觀的軟件包控制,該軟件包提供全面的圖像處理功能。這包括增強對比度和亮度、清晰度調整、直方圖讀數、感興趣的區域測量和圖像重叠的工具。HITACHI TM-3030是集成電路故障分析、材料科學樣品表征、生物樣品成像等廣泛應用的絕佳工具。這款功能強大、可靠的SEM提供出色的圖像分辨率、快速的樣品交換以及易於使用的軟件控制。
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