二手 HITACHI WA 1300 #9243647 待售

HITACHI WA 1300掃描電子顯微鏡（SEM）是納米級成像、評估、分析樣品的高性能工具。它是一種具有可變壓力控制設備的現場發射SEM，適合用於樣品表面表征和分析、元素成分分析、3D-morphological測量等一系列應用。該系統配有電子槍、冷凝器透鏡、成像透鏡和樣品室。電子槍產生狹窄聚焦的電子束，然後通過冷凝器透鏡進入樣品室，而成像透鏡捕獲並放大樣品的圖像。樣品室本身提供可變壓力控制，允許使用者調整壓力以獲得最佳成像或分析結果。成像單元用途廣泛，具有高分辨率成像、高景深成像和自動化分析機等特點。高分辨率成像使用戶能夠將詳細的觀測結果降到亞納米級,而高景深成像則允許同時觀察高達3D級的特征。自動化分析工具可用於快速識別樣品的眾多屬性,如其表面粗糙度、真實晶粒大小、元素組成和微觀結構特征。HITACHI WA-1300能夠在一系列成像和分析模式下運作，包括二次電子成像（SEI）和反向散射電子成像（BSEI）。SEI可以用來觀察樣品的表面特征，而BSEI提供了樣品內部結構和元素的更深層次的視圖。這兩種成像模式都具有高度的通用性,並且可以在單個自動化過程中與其他分析功能結合使用。此外，資產還提供了EDS X射線映射、粒徑分析、光譜顯微鏡等一系列分析功能。EDS X射線映射可幫助用戶在分析點識別樣品的元素組成，而粒徑分析則可用於細粒的表征。光譜顯微鏡結合自動化分析模型可提供樣品化學成分的詳細信息，可用於準確識別和量化微量元素。WA 1300設備設計用於快速、準確的樣品分析和成像，為用戶提供了研究和了解納米級各種樣品的強大工具。它結合了現場發射SEM和可變壓力控制系統，能夠進行詳細的觀測和分析，而眾多的成像和分析功能為材料科學、半導體等領域的研究人員提供了一系列選擇。