二手 HITACHI WA 3300 #293609265 待售

HITACHI WA 3300
製造商
HITACHI
模型
WA 3300
ID: 293609265
Atomic Force Microscope (AFM).
HITACHI WA 3300是一種場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM),利用聚焦電子束,以納米範圍內的分辨率獲得多種材料的圖像。它是研究納米級材料的表面、界面、組成和結構的理想工具。HITACHI WA 3300的設計基於高性能消色差透鏡內系統,使電子束散光最小化,為廣泛的材料和應用提供了更高的分辨率和成像靈活性。鏡頭內設計還提供了較大的景深,包括能夠同時成像硬質和軟質材料。WA-3300具有增強的電子束柱和雙級噴槍,可提高穩定性和更高的高分辨率成像能力。高輸出電子槍是為「冷」和「暖」模式的燈絲設計的,使其能夠達到高達30kV的加速電壓。這使得用戶可以獲得納米分辨率成像,即使在高真空環境下也是如此。HITACHI WA-3300還包括一個柱內照明的SE/BSE探測器和一個柱內法拉第杯,用於低kV成像應用。所有這些功能使WA 3300成為應用的理想系統,包括薄膜分析、界面、深度剖析和各種其他材料表征技術。此外,WA3300還配備了許多附件,包括SEM子系統和STEM/HRTEM附件選項,以及二次電子和反向散射電子探測器。HITACHI WA 3300還與各種真空泵和其他外圍設備兼容,如自動換樣器,使得操作更加靈活和自動化。HITACHI WA3300是一種功能強大的儀器,可提供精確、高分辨率的圖像和易於使用的操作。憑借獨特的鏡頭內設計,以及廣泛的探測器和配件,WA-3300使其成為材料和表面分析的理想選擇。
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