二手 ISI / AKASHI DS 130C #9080012 待售

ISI/AKASHI DS 130C掃描電子顯微鏡（SEM）是一種先進的成像和分析設備。顯微鏡采用現代掃描電子光學和成像技術，為用戶提供對單個納米結構和納米尺度特征的高分辨率成像和分析。該系統在0.1至30千伏範圍內具有可調加速電壓，適合廣泛的研究和工業應用。SEM配備了高分辨率的Eucentric柱,可提供出色的幾何穩定性和高分辨率成像能力。使用數字成像技術和圖像處理算法相結合,生成高分辨率SEM圖像,從而實現對比度和分辨率極高的優化圖像。SEM采用廣角炮和場發射源技術，即使在低加速電壓下也能提供明亮、均勻的圖像。介紹了二次電子（SE）成像、鏡頭內SE和反向散射（BSE）電子成像以及能量色散X射線光譜分析等多種檢測器配置。SE和BSE成像探測器裝有Ar離子槍源，用於清洗後清洗。為了優化SEM中的示例處理,可以通過自動電動驅動器單元在各種角度和XY坐標範圍內移動該級。各種尺寸的介面卡都可以用來附著樣本架，並且在機器正面包含一個樣本加載區域。當樣本環境發生變化時,還可以使用自動對焦功能來保持最佳圖像質量。除了其成像和樣本處理功能外,ISI DS 130C SEM還提供一系列分析功能,為用戶提供深入的組成和結構信息。其中包括具有X射線映射功能的高級EDS、化學成像、相位分析和陰極發光測量。兼容的附件和軟件從低真空掃描模塊到自動級控制，到各種樣品持有者和電子探測器。還提供了廣泛的分析軟件,提供了強大的圖像分析、統計分析和3D重建工具。AKASHI DS 130C SEM由於具有可調節的加速電壓、高分辨率成像能力以及廣泛的分析附件和軟件，是納米結構和納米尺度特征成像分析的理想平臺。高性能和自動化的設計使其成為廣泛研究和工業應用的理想選擇。