二手 ISI SS40 #114649 待售

ISI SS40掃描電子顯微鏡（SEM）是一種通用儀器，用於廣泛的高分辨率成像和元素分析應用。它最顯著的特點是能夠產生分辨率高達0.5 nm的圖像，使其成為納米級成像和分析的高端選擇。在SEM的核心是一個電子源-燈絲或場發射陰極。該源發射一股電子流，這些電子流被掃描穿過固定在樣品室中的樣品。當這些電子與樣品相互作用時，SEM的探測器發射並檢測到二次電子信號。這些信號被放大並顯示在SEM的顯示器上，以可視化樣本。SEM還具有一系列探測器,使用戶可以更好地了解樣品的特性。其中包括二次電子檢測器和能量色散X射線光譜檢測器，兩者都可以給出樣品的元素信息。ISIS SS40還提供了電子光柱的選擇-從標準光柱到更高級的中高壓（MV）光柱-允許不同的放大倍數以及增強的分辨率。SEM還配備了圖像捕獲軟件（ICS）,該軟件允許捕獲高分辨率圖像、視頻和對樣本的定量測量。它有一個實時圖像增強工具，可以方便地操作圖像以清晰地顯示結構。ISI SS40的緊湊和符合人體工程學的設計使研究實驗室易於運輸和設置。該儀器具有高度可調級、放大率設置範圍和可互換透鏡陣列，使其易於針對不同類型的樣品和實驗進行定制。對於那些尋求具有多功能性、可靠性和重型成像功能的高端SEM的用戶來說,SS40掃描電子顯微鏡是一個理想的選擇。憑借其高分辨率的成像和元素分析能力，它可以讓用戶更好地了解他們置於其下的標本。