二手 ISI SS40 #293799644 待售

JEOL JSM-7001F ISI SS40是一種高性能場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）。它能夠在大視野上實現高分辨率（1.5nm）成像。SEM有一個柱內能量濾波器和一個內置的電子能量損失光譜儀（EELS）用於化學成分分析，以及一個內置的閃爍探測器用於反向散射電子（BSE）成像。SS40利用先進的FE槍進行高對比度和高分辨率成像。這是以門控抽取器設備和永久性聚焦線圈為基礎，以維持槍的穩定性。標本室和樣品保持在真空中，允許這種顯微鏡在需要時在超高真空（UHV）中工作。對於示例操作,ISI SS40具有帶xyz推進驅動器的示例級,可提供全方位的運動。為了成像，SS40內置了列內能量濾波器和EELS。它們可以一起進行能量色散光譜（EDS）和波長色散光譜（WDS）分析。列內濾鏡在光場和暗場模式下都提供了樣本的高對比度圖像。EELS探測器安裝在列底，能夠獲取光譜以及創建樣本的2D映射。ISI SS40還包括一個反向散射電子探測器來創建BSE圖像。該探測器安裝在下腔，能夠以高效率檢測從樣品中散射的電子。使用此檢測器,用戶可以創建樣本的高對比度圖像。最後,SS40有一個自動真空控制系統來維持最佳的操作壓力.該單元提供對腔室壓力的實時監測，並使用計算機化維修機及時表明維護和清潔需求。總體而言，ISI SS40是一種功能強大、用途廣泛的場發射掃描電子顯微鏡。它能夠進行高分辨率成像和EELS、WDS和BSE分析，以提供對復雜納米材料的全面了解。