二手 ISI SS40 #36254 待售

ISI SS40掃描電子顯微鏡（SEM）是為材料科學、生命科學等領域的高分辨率成像而設計的分析儀器。它能夠對從宏觀到納米尺度的各種樣品進行成像，並能夠測量到原子水平的特征。SEM利用從從樣品表面散射到探測器上的鎢絲源發出的未聚焦電子束。成像是在真空環境中完成的，這使得電子可以不受幹擾地穿過樣品。通過觀察光束與樣品的相互作用，可以得到具有分子水平細節的圖像。SS40 SEM配備了像差校正電子透鏡，可直接成像50 nm以下的細微特征。它還具有先進的Pixcel探測器,可實現卓越的靈敏度和信噪比。ISI SS40針對分析和成像應用進行了優化,利用其廣泛的特征來分析表面特征、化學、地形、組成等。它有一個算法輔助分析特征測量檢測器（AFMD）與集成圖像縫合系統。AFMD能夠精確測量精細特征的位置，測量平面內和平面外晶體方向。另外，SS40可以提供相關的成像模式，其中可以同時獲得掃描電子和光譜成像。ISI SS40包括許多其他專門為提高效率、準確性和便利性而設計的功能。它有一個自動化的低真空對準系統和自動化的舞臺調整，以及一個內置的用於濺射或清洗操作的微波等離子體源。它還包括自動采樣器界面和符合人體工程學的用戶界面，配有「易於訪問」的觸摸控制和圖形界面。SS40是研究納米級特征和過程的一個非常強大的工具。從分析和成像功能到自動化工具和系統,ISI SS40旨在促進高分辨率成像和分析各種樣本。