二手 ISI SX 40 #154782 待售

ISI SX 40是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析多種材料。它具有用於掃描、成像和分析的全自動系統。它具有低kV成像系統，可提高圖像分辨率和對比度，並具有較大的景深，可對較厚的樣品進行精確成像。它還具有高分辨率的數字探測器，以實現最大的空間分辨率和對比度。這款SEM配備了最新的成像技術，包括高分辨率能量色散光譜儀（EDS）和高分辨率二次電子探測器（SE）。SEM帶有兩個高分辨率級，包括一個支持大樣品的XY級和一個高分辨率的傾斜和旋轉級。XY級的射程為2.2mm × 3.2mm，傾斜範圍為-15至+15。它還配備了內置的可變壓力控制樣品支架。傾斜式和旋轉式舞臺的設計可容納厚達4mm的樣品，樣品尺寸為6mm × 6mm。這兩個階段都具有極好的精度和可重復性。ISI SX40配有用於控制顯微鏡的軟件包。它包括一個強大的成像和分析環境，使研究人員能夠詳細分析他們的樣本。軟件包還包括圖像捕獲系統，以及微觀分析工具。SEM是完全自動化的，允許以非常高效和直接的方式從顯微鏡收集圖像和數據。軟件包中包含的實用程序可用於進一步分析,包括距離和面積測量,以及圖像增強。內置成像工具還允許從圖像和數據中提取詳細信息。SX 40是一種可靠的高分辨率掃描電子顯微鏡，設計用於高分辨率成像和分析。它是分析各種材料和樣品的理想工具。它具有一系列功能,使其成為一種通用的成像工具,並具有用於控制顯微鏡和收集數據的強大軟件包,以及成像和分析工具。