二手 ISI SX 40 #187345 待售

ISI SX 40是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高級微結構分析。ISI SX40使用電子相位對比度，允許對微觀結構進行詳細觀察。顯微鏡能夠放大到15,000X.它具有高分辨率的電子鏡，減少圖像失真，並提供標本清晰清晰的圖像。此外，SX 40融合了圖像和自動背景效果的自動集成，便於分析。SX40可用於分析微觀結構,如顆粒、沈澱物和低對比度細顆粒成分。也可用於檢測空隙、晶格缺陷和微結構特征。ISI SX 40能夠允許分析三維物體，如陶瓷電容器、細粉和薄膜。ISI SX40有一個自動化的數據收集設備和一系列方便用戶的功能，例如一個自動化的定位系統，用於高效的數據處理。該單元還允許對樣本圖像進行後處理。SX 40還具有高級控制功能，如實時控制機和預設掃描儀功能。SX40適用於廣泛的應用，從具有高機械強度的樣品到具有脆弱微機械結構的樣品。顯微鏡能夠觀察微機械特征，如分散邊緣或會聚和發散特征。ISI SX 40具有一系列附加功能,如自動攝像頭振動、低噪聲快照采集以及提高的精度。此外，顯微鏡具有專用的用戶界面，允許用戶管理和控制SEM的眾多功能。ISI SX40是一種高度通用的顯微鏡,非常適合進行微觀結構分析.其高分辨率和自動化功能使用戶能夠輕松高效地分析樣本。是研究和工業應用的理想顯微鏡。