二手 JAM 7001f #9243701 待售

JAM 7001f是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用聚焦的電子小粒子束來實現一個表面的數字成像。利用二次電子（SE）成像、反向散射電子（BSE）和透射電子（TE）成像，7001 f提供了高達100,000X放大倍率的樣品的強大微觀分析。JAM 7001 f有一個單色電子槍，產生直徑約1納米的高度聚焦點。當這個電子束在一個物體的表面上掃描時，它會產生與樣品特性相對應的信號。SE圖像描繪了電子釋放等原子特性，而BSE圖像顯示原子序數對比，TE圖像提供原子位置。這使SEM能夠創建樣本表面最小細節的圖片。7001 f的genScan功能允許對整個樣本進行自動掃描,從而提供更加全面和詳細的分析。此外，genXR自動模式識別工具能夠收集有效的定性和定量數據。JAM 7001 f是最先進可靠的成像系統之一,提供高質量的成像分辨率和無與倫比的靈敏度。顯微鏡還具有全封閉的試樣室、改進的真空泵和內置的試樣架，可提供更好的穩定性、屏蔽和樣品保護。7001 f還采用開放式軟件設計,允許用戶結合工具、數據庫、3D體積數據以及自定義算法的自動接口。它還包括具有高級圖像處理、3D圖像渲染和批處理功能的ImageVision™成像軟件。綜上所述,對於需要高分辨率成像、精確特征測量和全面分析的用戶,JAM 7001 f是一個極好的選擇。7001 f具有自動掃描、強大的硬件設計和強大的成像軟件,是各種SEM應用程序的理想選擇。