二手 JAM JSM 7000F #9260023 待售

JAM JSM 7000F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於觀察各種研究環境中小樣品的表面特征和組成。這種儀器能夠在原子層面產生極高分辨率的圖像。它具有多種功能,非常適合各種應用。JSM 7000F的有效采樣面積為11 cm2,分辨率在0.2至50 nm之間。它具有高達10 kV的加速電壓，允許清晰成像和高靈敏度。顯微鏡還配備了鏡頭內電磁場（EMF）檢測器，提高了對低能信號的檢測，降低了噪聲。光束電流也是可調的，允許用戶獲得對比度和細節極高的圖像。顯微鏡還具有一個在軸上，手動調節，兩級磁透鏡系統，使其能夠達到最大分辨率和合適的成像結果。此外,掃描梯形系統允許同時獲取具有不同放大倍數設置的多個圖像。這個系統也可以用來控制掃描速度和信號采集的持續時間。JAM JSM 7000F配備了自動標本交換（ASE）功能，可以讓標本從一個持有者快速、準確、安全地交換到另一個持有者。ASE可用於需要空氣或液體冷卻技術的樣品。此特征還允許分析不同類型的元素和材料組成。內置探測器能夠在明暗場設置中生成圖像。再者，利用電子反向散射衍射（EBSD）探測器也可以用來處理和分析圖像，使研究人員能夠了解每個樣品的晶體學取向。總體而言,JSM 7000F提供無與倫比的映像和分析功能。它降低了電子束的輻照和自動化的樣品交換能力，以及高分辨率的成像。這使得它成為各種研究環境中分析小樣本的首選。