二手 JEOL 100C #126353 待售

JEOL 100 C掃描電子顯微鏡（SEM）是一種強大的分析工具，用於從生命科學到材料工程的許多應用。它利用先進的電子光學、多探測器和定制的軟件包來執行高分辨率成像、元素分析和化學分析。100 C具有高真空兼容室、新電子槍和電動級，提供了廣泛的研究可能性。JEOL 100C在二次電子成像中提供高達10 nm的分辨率,在反向散射電子成像模式下提供高達5 nm的分辨率。其電子槍的最大工作距離為150毫米，最大加速電壓為30 KV。它還具有低至10-3 Pa的可選擇腔室壓力範圍，允許低真空操作。6 nm分辨率的高真空操作是低表面粗糙度樣品高分辨率成像的理想選擇。100 C配備了廣泛的探測器，可用於成像和分析模式。其中包括提供元素和化學分析的大型STEM檢測器，以及用於增強對比度的圖像濾波器和用於樣品分析的反向散射檢測器。此外，JEOL 100C還具有二次電子檢測器、EDX檢測器、充電檢測器等功能進行綜合分析。100 C上的定制控制軟件套件提供了廣泛的功能。其中包括具有易於使用的極地導航系統的導航控制、用於對比度增強的圖像濾波器控制以及用於自動成像和分析的全階段可編程性。此外，JEOL 100C還支持樣本準備，如橫截面分析，並擁有專門應用的集成特征庫。總之，100 C是一種先進的掃描電子顯微鏡，提供高分辨率成像和對各種樣品的高級分析。它具有電動級、高真空相容室和廣泛的探測器，是許多應用的理想工具。最後，JEOL 100 C集成軟件包確保了成像和分析任務的一致和及時執行。