二手 JEOL 1200EX #9132459 待售

JEOL 1200EX是世界上最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）之一。由JEOL Corporation在日本開發的JEOL 1200-EX具有超高分辨率冷場發射野戰炮（FE-FEG），提供卓越的影像品質。1200 EX可以提供0.5 nm的分析深度，加速度電壓為1kV，而其最大分辨率在ZAE模式下達到0.08 nm。這使得它非常適合成像納米級結構。1200-EX還配備了三個檢測器端口，提供多種成像紋理和對比，包括二次電子、反向散射電子和組合的二次和反向散射電子。1200EX具有可變壓力模式，可以在沒有塗層或真空的情況下查看樣品。這樣可以對敏感樣品進行低損傷成像和分析。此外，JEOL 1200 EX配備了一個大面積的ESaber型腔室，允許查看和分析尺寸可達80 x 50 mm的樣品。JEOL 1200EX擴展了光學能力，例如高分辨率數字顯微鏡，它允許同時觀察分辨率高達5 μ m的特征。它還提供SEM/EBSD和EDX等成像模式，允許對樣品進行化學分析。JEOL 1200-EX是一個可靠和方便用戶的工具，提供先進的功能，如全自動對齊系統，以確保可重復、高質量的結果。其用戶友好的操作系統，包括遙控設備和全彩液晶顯示器，確保了易用性和無故障操作。總而言之,1200 EX是一款用途極為廣泛且靈敏的SEM,具有高分辨率成像功能。其高分辨率成像模式、可擴展顯微鏡功能和用戶友好特性意味著它非常適合一系列應用，從材料故障分析到納米技術研究。