二手 JEOL 2000FX #78020 待售

JEOL 2000FX是一種高分辨率場發射掃描電子顯微鏡（FESEM），提供定性成像、元素分析和納米級材料表征。它能夠在高和低真空模式下運行，分辨率範圍為0.5至10 nm。JEOL 2000-FX利用場發射槍（FEG）產生非常穩定、高分辨率的電子束，提供增強的對比度和分辨率。該槍裝有Gatan Performus™ 12k x 12k CCD成像探測器，用於高對比度、高分辨率成像。其防汙染系統利用輕離子轟擊和液氮冷卻相結合，以減少標本汙染的必須常見來源。2000FX還具有易於操作的低真空模式，專為納米材料特性設計。低真空模式提供與高真空模式相同的成像和分析能力，但真空水平降低，使用專門為納米級材料設計的特殊FESEM柱。這種模式是研究納米材料的理想方式，因為納米級特征保留其形狀和大小而不會變形。2000-FX包括幾個擴展功能的可選附件。其中包括一個用於收集用於三維成像的傾斜視圖中的EDX分析的單個傾斜標本支架，一個用於分辨率極高的極低電壓顯微鏡成像的先進透射照明檢測器（ATILD），以及一個用於高分辨率成像磁性材料的內部磁場物鏡。JEOL 2000FX是一種功能強大且用途廣泛的成像工具,能夠以合理的價格提供定性成像、元素分析和納米級表征。JEOL 2000-FX具有快速的數據采集時間、易於操作的納米材料低真空模式以及擴展功能的可選附件,是許多成像和分析應用的理想選擇。