二手 JEOL 2000FX #9245380 待售

製造商
JEOL
模型
2000FX
ID: 9245380
Transmission Electron Microscope (TEM) Resolution: 0.32 nm Point / 0.14 nm Lattice Eucentric goniometer sample holder with LaB6 Filament GATAN Orius digital camera: 11 Megapixel Size: 200 kb Beam energy: 200 kV Accelerating voltage: 80 kV to 200 kV.
JEOL 2000FX是為高級成像和分析而設計的高性能掃描電子顯微鏡(SEM)。它提供獨特的特性和功能組合,使其成為高級研究的理想選擇。其設計提供卓越的光學、透鏡和檢測器,提供高分辨率的樣品成像。運動階段的設計允許沿著x、y和z軸精確和受控的運動。這允許對表面進行精確的成像和微觀分析。JEOL 2000-FX配備了六個探測器,可用於從包括能量色散X射線光譜(EDS)和陰極發光(CL)在內的各種分析中獲取數據。它還具有可變壓力系統,允許在各種條件下對高分辨率成像進行可變真空控制。該系統還有助於減少空氣汙染的影響,減少充電的影響。2000FX配備了場發射電子源,提供卓越的性能水平和卓越的成像分辨率。它還提供了同時收集二次電子和反向散射圖像的能力。這樣可以提供廣泛的分析功能,並能夠更詳細地觀察小型特征和結構。2000-FX由功能強大且能夠快速獲取和分析數據的軟件提供支持。它提供了許多使顯微鏡非常方便用戶的功能,例如用於快速加載標準高分辨率圖像的可視元素庫和用於快速加載3D結構的功能強大的對象庫。此外,教程模式可以幫助新用戶快速學習如何使用軟件,而高級用戶可以利用現有的腳本編寫功能。總體而言,JEOL 2000FX為研究和工業應用提供了高級成像功能。它結合了多種功能,成為入門級用戶和專業用戶的絕佳工具。其設計和軟件提供了很高的性能和精度,其可變壓力系統在不同條件下成像時提供了靈活性。其強大的成像軟件和快速的數據采集使分析樣品成為一種微風。
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