二手 JEOL 2000FX #9389978 待售

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製造商
JEOL
模型
2000FX
ID: 9389978
Transmission Electron Microscope (TEM).
JEOL 2000FX是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於亞顯微鏡水平的高性能成像。JEOL 2000-FX是一種多用途顯微鏡,可以對10nm至1微米的樣品進行高分辨率成像,非常適合評估各種樣品中的微結構。其先進的電子光學具有浸入式高性能物鏡和超低像差、高分辨率的高調諧電子光學。此外,2000FX具有廣泛的成像模式和技術,從反向散射電子成像到X射線元素分析,使其具有分析樣品表面和地下結構的能力。2000-FX具有獲得專利的Everhart-Thornley配對網格電流收集系統,可提供可靠的低背景、高對比度成像和高空間分辨率。不斷演變的Everhart-Thornley探測器的長度,導致視角更寬,減少了過度的圖像裝配查看大視野的需要。相反,它的非演進布局允許更快的數據采集和更快的成像時間。JEOL 2000FX還包括一個樣品級傾斜控制,允許更精確地查看傾斜的樣品結構。這種設置與全自動功能(如自動定心、帶照明的十字線和半自動光學對準功能)相結合,可產生可重復和準確的結果。JEOL 2000-FX還具有高真空系統,可在工作環境中提供穩定性,提高圖像的分辨率。高真空產生於顯微鏡腔內,不需要單獨的真空泵和腔室,同時降低成本和功耗。再者,2000FX有一個內置的3600C|°電子源,產生一個長時間不需要手動調節的連續穩定束。先進的電子光學、Everhart-Thornley探測器、自動化功能和高真空的結合使2000-FX能夠產生各種樣品材料的清晰清晰的圖像。總體而言,JEOL 2000FX顯微鏡為各種應用程序提供了強大而精確的成像功能。JEOL 2000-FX具有先進的電子光學功能和自動化功能,可用於表面成像和深度成像。它具有廣泛的特點,能夠快速有效地分析亞微觀層次的結構,並具有可靠的準確性和可重復性。
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