二手 JEOL 2010 #9157313 待售

JEOL 2010是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於成像和分析各種材料樣品。它提供高分辨率的成像,具有高達10kV的加速電子束,並允許超低電壓,分辨率高達50 nm。它具有令人印象深刻的4個獨立可調掃描級以及冷卻溫度控制器，在成像和試樣操作過程中保持所需的溫度。2010年內置了掃描環形暗場（ADF）探測器和專有的Focus Drift補償設備,用於無模糊成像和增加放大倍率。ADF系統還提供不同深度的標本地形信息,以提高特定特征成像的精度。專有的EDS（能量色散X射線光譜）檢測器可以精確分析樣品的元素組成和形態。JEOL 2010還配備了專用的加熱/發光放電模塊,用於在樣品上塗上薄薄的金或其他金屬層。這種塗層能提高樣品可見度，提供高對比度成像。該模塊配有一個集成的加熱板和一個溫度監視器，用於對薄膜結構進行完美的微調，以獲得所需的最終成像結果。除了令人印象深刻的功能外,2010還提供用戶友好的控件和直觀的菜單,以便於導航和快速訪問信息。它還具有自動圖像采集單元,可存儲多達10個示例圖像供將來參考和比較。該機與計算機控制的試樣加載系統集成在一起，以提高精度和速度。總體而言,JEOL 2010是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,提供高分辨率的成像和分析功能、直觀的控制和用戶友好的菜單,以及在所有SEM任務中的出色性能。通用儀器非常適合用於研究和工業環境，可以大大提高數據收集和分析的質量和準確性。