二手 JEOL 2010F #293757804 待售

JEOL 2010F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），配備了廣泛的高級功能。它以其出色的分辨率和在各種應用程序（包括3D成像和分析）中的準確性而聞名。顯微鏡裝有肖特基場發射槍（FEG）電子源、大型標本室和自動計算機控制操作系統。JEOL 2010 F具有用於三維成像的高分辨率SE（二次電子）探測器,具有地形和自由運動兩種定位模式。地形模式通過記錄樣品中各點二次電子信號到達的相對時序來提供3D成像，並采用自由運動模式在樣品周圍移動SEM，允許進一步成像機會。2010F的用戶友好操作系統包括一個直觀的圖形用戶界面，用於優化控制和校正。它還具有大型氣體註入系統、穩定圖像的BSE（反向散射電子）檢測器以及用於自動攝像機控制和3D數據處理的高級軟件包等多種先進功能。2010 F的肖特基野戰發射槍具有非常短的熱噪聲發射時間，允許穩定且高度可重現的操作。這對於需要更高能量穩定性的測量特別有益，例如在X射線分析中。此外,SEM的FEG具有介於0.1 keV和30 kV之間的可變加速電壓。JEOL 2010F適用於廣泛的研究應用，包括與微分析、半導體故障分析、材料科學和3D成像相關的應用。它具有出色的分辨率和準確性，是科學研究和實驗的可靠工具。