二手 JEOL 2010F #9283823 待售

JEOL 2010F是一種掃描電子顯微鏡（SEM）,它為用戶提供了非常適合許多行業的廣泛應用的功能。儀器配備了一系列先進的功能，讓有經驗的和新手的用戶都能快速、輕松地準備樣品進行觀察。該裝置有一個大的腔室大小，使用戶能夠觀察到更大的樣品-直徑可達12厘米。它配備了高亮度的FEG，允許良好的聚焦、對比度和分辨率。它的非磁性快速開關polepiece技術提供了高水平的性能，產生清晰的圖像和高立體聲角度。該裝置包括一整套探測器，包括次級和反向散射電子探測器。其4象限反向散射電子探測器產生高分辨率圖像，可用於測量小物體。它還具有立體角大的二次電子檢測器，提供出色的效率和靈敏度。該系統還具有多種分析能力，適合多種應用。它的能量色散X射線（EDX）探測器為用戶提供了樣品組成和厚度的信息，使得識別樣品中存在的元素成為可能。其EBSD（電子反向散射衍射）檢測器是先進晶體學的理想選擇，允許用戶分析單個晶粒和薄膜中的原子結構、取向和應變。JEOL 2010 F提供了多種自動化功能，使其極為方便用戶。其自動功能可用於快速設置實驗，為用戶節省時間和精力。它還具有掃描電子束控制，允許用戶精確移動或掃描樣品。最後,它的自動化數字電子提供了優異的中間分辨率.2010F是一個出色的掃描電子顯微鏡，適用於廣泛的應用。它具有先進的功能和自動化功能,是專業用戶和新手用戶的理想工具。