二手 JEOL 2011 #9224590 待售

JEOL 2011掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率成像工具，允許對標本進行詳細檢查，並對表面特征進行超高細節分析。它能夠產生高達500,000x的放大倍率,分辨率<1.0nm和高景深,以實現三維特征的最佳成像。這種顯微鏡的各種特點使其非常適合廣泛的應用，從良性受試者的低帶寬成像到工業部件的高分辨率檢查。顯微鏡通過掃描樣品上的聚焦電子束來操作，從而產生二次電子、反向散射或X射線發射。然後將得到的信號放大並投射到熒光屏上以產生圖像。電子束的強度和位置可以調整，以強調不同的特征或在一個區域觀察不同的樣品特性。除了成像能力，2011年還提供多種分析能力。這些包括表面特征的量化、組成分析、形態和結晶度。除了這些分析功能外,它還提供了許多功能,以簡化操作和分析,例如允許檢查樣本中階梯特征的傾斜階段和自動分析例程。JEOL 2011是一種多功能成像和分析工具,具有多種功能,可用於對各種樣品進行高分辨率檢查和分析。它的特征組合產生了可用、可重現和有意義的圖像，說明了表面屬性與樣本底層結構之間的關系。憑借其眾多的特點，2011可以成為廣泛研究和工業應用的寶貴資產。