二手 JEOL 330 #9268274 待售

JEOL 330
製造商
JEOL
模型
330
ID: 9268274
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL 330是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於從JEOL範圍的顯微鏡進行高性能成像。它是一個頂級的設備,能夠產生高分辨率的圖像具有非常高的精確度和細節。它的主要特點是其廣泛的成像模式,它允許用戶以多種分辨率探索樣品的表面。它還為測量表面地形和微觀結構以及生命科學成像提供了一系列特征。330配備了超高分辨率數碼相機和動態掃描技術。這樣,即使是樣品表面上最優秀的特征也可以進行詳細的成像。它有一個大的,直徑8英寸的標本階段,能夠容納各種樣本量。顯微鏡還配備了二次電子探測器和可伸縮的反向散射探測器。這些探測器允許收集定性和定量數據,使其適合廣泛的應用。SEM還具有自動聚焦系統,可確保極高的分辨率成像。它還允許自動分析一系列不同的參數。這些參數包括表面地形及其粗糙度、晶粒尺寸分布以及顆粒形狀和方向。這使得JEOL 330非常適合各種微結構、摩擦學和故障分析研究。除了成像功能範圍外,330還提供多種附加功能。它具有高速掃描能力,允許它以比其他系統更高的效率生成圖像。它還擁有一個獲得專利的虛擬懸崖單元,即使在不平坦的表面上也能確保精確的成像。這使得它非常適合探索不均勻和高度紋理材料的表面。總體而言,JEOL 330是研究表面特征最有能力和最強大的儀器之一。由於它結合了成像模式和探測器,它提供了高度的精確度、準確性和多功能性。其自動化對焦機和高速掃描能力也使其適合多種應用。
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