二手 JEOL 35 #126386 待售

JEOL 35
製造商
JEOL
模型
35
ID: 126386
Scanning electron microscope, TEM detector, parts system.
JEOL 35是一種掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對各種樣品進行高精度成像和分析。它具有廣闊的視野、景深和分辨率性能,圖像可以放大到原始大小的2000倍。其堅固的設計使得它可靠和理想的成像樣品在各種材料,包括金屬,陶瓷,聚合物和有機物。35配備低真空模式,提供快速樣品成像和分析能力。它配備了一個野外發射槍系統,允許在0.5-5納安培的高主光束電流下進行精確的樣本量控制。這允許以各種放大倍數成像,以獲得最大的視野和分辨率。SEM配備了包括二次電子探測器和反向散射電子探測器在內的多種檢測器系統,以提高圖像對比度和提高焦點深度。JEOL 35使用自動化的舞臺系統,能夠精確的樣品定位和精確導航到樣品的不同區域。舞臺提供280mm x 280mm的最大移動範圍。它還具有一個最大尺寸為800mm x 800mm的大型標本室,允許對大型樣品進行成像。SEM由高速數字成像系統提供動力,該系統將來自探測器和電子光學器件的數據相結合,以創建樣品的數字圖像供進一步分析。35還包括用於圖像增強、操作和分析的創新軟件。這些是提供圖像分割、光譜分析和線條輪廓集成等特征的集成特征。此軟件允許用戶進行精確測量、分析數據和創建3 D模型。JEOL 35的設計允許用戶進行精確的測量,分析復雜的數據並操縱圖像從樣本中提取最大數量的信息。其多才多藝的設計、魯棒性和高性能使其成為材料科學、礦物學和地質學等多個領域的理想成像工具。
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