二手 JEOL 35 #9044656 待售

JEOL 35掃描電子顯微鏡（，簡稱SEM）是利用電子束觀測樣品表面細節的高性能設備。電子束的軸線通過使用靜電透鏡聚焦在樣品上，而能量分析儀設備則調整光束的強度以達到最佳圖像對比度。樣品位於頂部加載階段，可以用三維控制操作，以正確定向所需的成像區域。35 SEM提供了多種功能和附件,包括輔助電子探測器、反向散射電子探測器、自動化通用信息系統以及用於3D成像和分析的EDS®傾斜探測器。這種尖端設備還允許用戶采用特殊的樣品制備技術來正確檢查各種材料。其中兩種稱為Cs校正成像和低真空SEM的技術專門用於處理導電不良、易碎或非導電樣品。JEOL 35 SEM具有出色的分辨率能力，最大分辨率為1.4nm。此外，它的工作非常安靜，振動低，使得周圍的環境適合光譜分析。其操作和環境條件也被設計為便於操作單元和維修部件；從而大大減少了停機時間。35 SEM是一種可靠、高性能的儀器,可提供出色的分辨率,同時確保最高安全標準。此外,SEM先進的成像機使其易於配置,以滿足各種分析要求。JEOL 35 SEM憑借其精湛的特點，為開創性的研究和創新奠定了基礎。